高溫計是有兩種形式： 1)一種用于測量熔池溫度的裝置，包括： a)耐火材料安裝套筒(1以及 b)光學高溫計 2)一般指測量溫度高于 500℃所使用的溫度計。常用的高溫計有光學高溫計、比色高溫計及輻射高溫計等。此外，熱電偶溫度計也可以用來測量3000℃以下的高溫。但因熱電偶溫度計的測量范圍可低到-200℃,所以一般不把它歸于高溫計內。

　　4比色式編輯又稱比率高溫計或雙色高溫計，是測量物體色溫度的高溫計。當非黑體的兩個確定波長λ1和λ2的光譜輻射度之比L(λ1)/L(λ2)等于某一溫度下黑體的同樣兩個波長的光譜輻射度之比時，則黑體的溫度就稱為此非黑體的色溫度。

　　是常用的雙色比色高溫計原理圖。由濾光片取得藍光波長λ1=0.450μm及紅光波長λ2=0.650μm。硅光電池E1和E2分別接收到波長為λ1與λ2的輻射能量后,將在它們的負載電阻上產生電壓U1與U2。根據硅光電池的特性有，U1/U2=L(λ1)/L(λ2)。調節電位器W使測量電路的指示達到平衡，則電位器W上指示位置與比值U1/U2對應。利用黑體輻射源可對電位器W直接分度所指示的溫度值即待測物體的色溫度。

　　比色高溫計的測量范圍為800～2 000℃，測量精度可接近量程上限的±1%。比色高溫計的優點是測量的色溫度值很接近真實溫度。在有煙霧、灰塵或水蒸氣等環境中使用時,由于這些媒質對λ1及λ2的光波吸收特性差別不大，所以由媒質吸收所引起的誤差很小。對于光譜發射率與波長無關的物體(灰體)可直接測出其真實溫度。上述優點都是其他類型的光測高溫計所沒有的。色溫度的溫標是由亮度溫度確定的，因而比色高溫計的測量精度比光電高溫計的差;但由于比色高溫計使用方便，在冶金和其他工業中的應用仍較廣泛。

　　高溫計輻射式編輯原理

　　根據熱輻射的斯忒藩-玻耳茲曼定律制成的高溫計。這個定律指出：黑體的輻射出射度(輻射通量密度)M與其溫度T的四次方成正比，即

　　M=σT

　　式中斯忒藩常數σ=5.67032×10-8 W·m·K。輻射高溫計將被測物體一定面積上和一定立體角內的輻射能量收集到接受器中，接受器的溫升將穩定于一定數值。因溫升值事先已用黑體溫度進行分度，由接受器的溫升可直接讀出相對應黑體的溫度Tp。對于待測的非黑體溫度求法如下：引入物體的光譜發射率

　　，

　　式中Mo和M分別為物體和黑體在同一溫度下的輻射通量密度。由以上兩式推得待測物體的溫度為

　　,

　　式中Tp為輻射高溫計的讀數值，光譜發射率ε可查閱有關手冊或按需要自行測定。表中列出幾種材料在不同溫度下的光譜發射率。

　　輻射高溫計有折射式和反射式兩種。折射式輻射高溫計的原理如圖3a所示，接受器通常用熱電堆組成，熱端收集輻射能，冷端為室溫。測量時通過目鏡瞄準待測的物體，使物體的像正好落在接受器的“+”形鉑片上。電表指示出接受器的溫升，通常的分度標示為黑體輻射溫度值Tp。這種高溫計的主要缺點是：因物鏡聚焦時有色差, 只能使一部分輻射能聚焦到接受器上而引起誤差。

　　反射式高溫計是利用凹面鏡將輻射能量聚焦到接受器上而進行測量的。結構與折射式高溫計大致相同。這種高溫計雖然避免了透鏡存在色差所引起的誤差，但因空腔敞開，灰塵容易進入腔內而需要更好地維護。

　　高溫計應用

　　輻射高溫計的測溫范圍及性能與光學高溫計的相同。輻射高溫計的測量誤差主要來源于：①中間媒質(如大氣等)的選擇吸收作用，使達到接受器的輻射能量中紅外部分損失較多;②沒有按規定的熱源到高溫計的距離進行測量(通常每種輻射高溫計對于被觀測面面積的直徑與高溫計透鏡間的距離都規定了比值);③各種高溫計中接受器的選擇吸收特性不同，致使光譜發射率偏離選取值;④熱電堆冷熱端溫度的改變、儀表的誤差等。